咨询热线

13061644116

当前位置:首页  >  产品展示  >  光学测量仪器  >  

  • 高速波前传感器 400-800nm 光束直径2.0-4.6mm
    高速波前传感器 400-800nm 光束直径2.0-4.6mm

    高速波前传感器 400-800nm 光束直径2.0-4.6mm 产品总览 PULSTEC该传感器基于Shack-Hartmann方法,能够实时测量光源和光学像差。

    更新时间:2024-10-25型号:访问量:603
    查看详情
  • XUV/EUV 宽带软X射线高分辨率光谱仪 2-100nm
    XUV/EUV 宽带软X射线高分辨率光谱仪 2-100nm

    筱晓(上海)光子技术有限公司是一家被上海市评为高新技术企业的专业光学服务公司,业务涵盖设备代理以及项目合作研发,建有*的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室,为国内外客户提供专业技术支持服务 XUV/EUV 宽带软X射线高分辨率光谱仪 2-100nm

    更新时间:2023-07-03型号:访问量:602
    查看详情
  • SPECT-100 nir1 近红外光谱相机(光谱成像单元) 600-1100 nm(机器视觉)
    SPECT-100 nir1 近红外光谱相机(光谱成像单元) 600-1100 nm(机器视觉)

    SPECT-100 nir1 近红外光谱相机(光谱成像单元) 600-1100 nm(机器视觉) 产品总览 SPECT-100 vis nir1 nir2型光谱成像单元,光谱成像是一种通过二维捕捉物体,获取、分析和显示物体各部分光谱信息的技术。通过光谱分析每个部分的数据,可以获得材料的物理和化学信息并将其显示为图像。

    更新时间:2024-09-27型号:访问量:612
    查看详情
  • 红外探测卡IR5
    红外探测卡IR5

    筱晓(上海)光子技术有限公司是一家被上海市评为高新技术企业的专业光学服务公司,业务涵盖设备代理以及项目合作研发,建有*的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室,为国内外客户提供专业技术支持服务 红外探测卡IR5

    更新时间:2023-06-30型号:访问量:693
    查看详情
  • 极紫外和软x射线辐射EUV显微镜 (Metrology计量学 无损亚纳米级次表面成像) (显微OCT
    极紫外和软x射线辐射EUV显微镜 (Metrology计量学 无损亚纳米级次表面成像) (显微OCT

    极紫外和软x射线辐射EUV显微镜 (Metrology计量学 无损亚纳米级次表面成像) (显微OCT扫频测振) 产品总览 三维无损成像技术在材料科学和医学等许多应用领域都非常重要。我们开发了一种成像技术,利用极紫外和软x射线辐射来获得纳米分辨率的横截面图像。 例如,我们能够无损地研究硅片或生物样品中的近表面结构。

    更新时间:2024-08-08型号:访问量:699
    查看详情
  • 可见光 空间分辨率光谱仪 380-780nm
    可见光 空间分辨率光谱仪 380-780nm

    可见光 空间分辨率光谱仪 380-780nm 产品总览 空间分辨率光谱仪SRS1-vis(可见光型)

    更新时间:2024-08-09型号:访问量:684
    查看详情
  • 软磁层评价系统 BH-618HS-P20
    软磁层评价系统 BH-618HS-P20

    筱晓(上海)光子技术有限公司是一家被上海市评为高新技术企业的专业光学服务公司,业务涵盖设备代理以及项目合作研发,建有*的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室,为国内外客户提供专业技术支持服务 软磁层评价系统 BH-618HS-P20

    更新时间:2023-06-29型号:访问量:593
    查看详情
  • 垂直磁记录介质评价体系 BH-810CPC
    垂直磁记录介质评价体系 BH-810CPC

    筱晓(上海)光子技术有限公司是一家被上海市评为高新技术企业的专业光学服务公司,业务涵盖设备代理以及项目合作研发,建有*的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室,为国内外客户提供专业技术支持服务 垂直磁记录介质评价体系 BH-810CPC

    更新时间:2023-06-29型号:访问量:605
    查看详情
共 298 条记录,当前 11 / 38 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
Baidu
map