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FS70-TH 用于半导体检测显微镜 (1X管镜头 可调光通比 C-mount接口)（观察仪） 应用： 切割、修整、校正、 给半导体电路做标记 薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。 还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。 • 可用于红外光学系统*。
CUBE-ER100偏振消光比测试仪 总览 CUBE-ER100是一款基于旋转偏振器的偏振消光比（PER）测量仪，适用于光纤和自由空间光学应用。由于其紧凑的尺寸和高达每秒50点的快速测量速度，它可以很容易地集成到保偏光纤自动对准系统中。
FS70Z-TH 用于半导体检测显微镜 (1x-2x管镜头 C-mount) （观察仪） 应用： 切割、修整、校正、 给半导体电路做标记 薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。 还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。 • 可用于红外光学系统*。
BladeCam2-HR-UV CMOS基础型光斑分析仪相机 190-1150nm 产品应用 连续激光的光束分析 激光和激光系统的现场测试 光学组装和仪器校准 光束漂移和记录 使用 M2DU 平台测量 M²
BladeCam2-XHR-ND4 CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm 产品应用 连续激光的光束分析 激光和激光系统的现场测试 光学组装和仪器校准 光束漂移和记录 使用 M2DU 平台测量 M²
BladeCam2-XHR CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm 产品应用 连续激光的光束分析 激光和激光系统的现场测试 光学组装和仪器校准 光束漂移和记录 使用 M2DU 平台测量 M²
Atik VS系列 CCD高分辨率长曝光工业相机 (1460 x 1932) 产品总览 这款柔性冷却相机支持多种索尼CCD传感器，满足了大多数科学原始设备制造商和显微镜用户的需求。
FS70L4 用于半导体检测显微镜（显微OCT扫频测振） 特点 采用Mitutoyo远场校正镜头 三端输出设计可轻松接收视频 转盘可接最多四个物镜
